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J-GLOBAL ID:200903005738677878

打診法による試料の欠陥診断方法及び欠陥診断装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 板谷 康夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997049284
Publication number (International publication number):1998246723
Application date: Mar. 04, 1997
Publication date: Sep. 14, 1998
Summary:
【要約】【課題】 打診法による試料の欠陥診断方法及び診断装置において、周波数スペクトルの再現性を良好とし、可聴域から超音波領域までの広い領域の周波数スペクトルにより診断を行い、診断精度の向上を図る。【解決手段】 鋼球3を試料2に向けて発射して音を発生させることにより、従来のハンマを用いた音発生方法において起こり得るハンマの腕部の振動によるノイズの発生を抑えることができ、診断精度の向上を図ることができる。また、打撃の強さを一定にすることができるので、周波数スペクトルの再現性が良好となる。さらに、コンデンサマイクロホン4により可聴域から超音波領域までの広い領域の周波数スペクトルをとらえることにより、試料2の欠陥の有無による検出信号の差が大きく現れ、診断の判別が容易となる。
Claim (excerpt):
試料に衝撃を与えたときに発せられる音に基づいて、試料の欠陥を診断する打診法による試料の欠陥診断方法において、欠陥を有しない適正試料と欠陥を有するおそれのある被診断試料に向けて所定の質量の鋼球を所定の速度でそれぞれ発射し、両試料に衝撃を与えることによりそれぞれの試料から発せられる可聴域から超音波領域までの音の周波数スペクトルを比較することにより、被診断試料の欠陥を診断することを特徴とする打診法による試料の欠陥診断方法。
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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