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J-GLOBAL ID：200903005753441244

物体検査方法及びその装置

Inventor： 橋本 良仁 ,  池田 和隆
Applicant, Patent owner： 松下電工株式会社
Agent (2)： 西川 惠清 ,  森 厚夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003149762
Publication number (International publication number)：2004354111
Application date： May. 27, 2003
Publication date： Dec. 16, 2004
Summary：

【課題】検査対象がどのカテゴリに属するかを視覚的に容易に把握できる物体検査方法及びその装置を提供する。【解決手段】特徴抽出部2は、信号入力部1の測定信号から検査対象の特徴量を抽出したデータを作成する。マップ作成部3aは、特徴抽出部2によって特徴量が抽出された複数のデータからなる学習用データセットを教師なし競合型ニューラルネットワークに入力してカテゴリ毎に分類し、クラスタリングマップを作成する。そして、マップ作成後に信号入力部1及び特徴抽出部2を介して新たな測定信号のデータが入力されると、クラスタ判定部3bが新規のデータを学習後の競合型ニューラルネットワークに入力して、新規データのマップ上での位置を取得するとともに、取得した位置から新規のデータが何れのカテゴリに属するかを判定して、判定結果を表示部7にマップ表示する。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

検査対象の物理的、化学的性質に関わる測定信号を入力して、入力された測定信号から検査対象の特徴量を抽出したデータを作成した後に、複数の前記データからなる学習用データセットを教師なし競合型ニューラルネットワークに入力してカテゴリ毎に分類して、クラスタリングマップを作成し、前記クラスタリングマップの作成後に新たな測定信号を学習後の前記競合型ニューラルネットワークに入力して、前記新たな測定信号の前記クラスタリングマップ上での位置を取得するとともに、取得した位置から前記新たな測定信号が何れのカテゴリに属するかを判定して判定結果を出力することを特徴とする物体検査方法。

IPC (3)：

G01D21/00 ,  G01D7/00 ,  G06N3/00

FI (3)：

G01D21/00 N ,  G01D7/00 302P ,  G06N3/00 560A

F-Term (11)：

2F076BA05 ,  2F076BD05 ,  2F076BD12 ,  2F076BD13 ,  2F076BE04 ,  2F076BE06 ,  2F076BE08 ,  2F076BE09 ,  2F076BE12 ,  2F076BE15 ,  2F076BE17

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 特開平4-310102
  

Cited by examiner (1)

• 特開平4-310102