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J-GLOBAL ID:200903005817147671
亀裂の検出及び亀裂発生部板厚の測定方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
高野 茂
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997204798
Publication number (International publication number):1999051910
Application date: Jul. 30, 1997
Publication date: Feb. 26, 1999
Summary:
【要約】【課題】 部材の亀裂の検出と亀裂発生部の板厚測定とを同時に行う。【解決手段】 送信用探触子1から部材9に超音波を入射し、受信用垂直探触子2で亀裂10からの反射波を受信する。反射波には直接受信される波Aと、一端裏側の面で反射されてから受信される波Bとがあるので、受信信号は二つのピークを描く。この特徴的な波形の出現によって亀裂を検出する。又、反射波は表裏面を多重反射するので、特徴的な波は繰り返し現れる。この繰り返される間隔から同時に板厚を求める。
Claim (excerpt):
超音波の斜角波又は表面SH波を送信用探触子から部材に入射し、受信用垂直探触子を走査させながら部材に発生した亀裂での反射波を受信し、受信信号に基づいて亀裂を検出するとともに亀裂発生箇所の板厚を測定することを特徴とする亀裂の検出及び亀裂発生部板厚の測定方法。
IPC (3):
G01N 29/04 502
, G01B 17/02
, G01N 29/22 504
FI (3):
G01N 29/04 502
, G01B 17/02 Z
, G01N 29/22 504
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