Pat

J-GLOBAL ID：200903005819613670

傾き検出方法

Inventor： 秦 純一 ,  泉田 圭三 ,  森本 正通
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 石原 勝
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992094520
Publication number (International publication number)：1993288534
Application date： Apr. 14, 1992
Publication date： Nov. 02, 1993
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】ノズルや、ゴミ、輝度変化等によるノイズの影響が少なく、多品種の電子部品を共通に扱える汎用性が高い、傾き検出方法を提供する。【構成】 認識対象物の濃淡画像を2次元多値画像としてメモリに格納する第1工程#1と、2次元多値画像上に複数のサンプリング点を設定する第2工程#2と、各サンプリング点において、輝度勾配が最大となる方向に所定の角度を加えた偏角と輝度勾配の大きさとを求める第3工程#4と、第3工程の処理結果から、偏角別の最大輝度勾配発生頻度を表す偏角ヒストグラムを作成する第4工程#5と、第4工程の偏角ヒストグラムを所定角度分だけ変位させて累算して累算偏角ヒストグラムを作成する第5工程#7と、第4工程の偏角ヒストグラム又は前記第5工程の累算偏角ヒストグラムにおいて最大輝度勾配発生頻度が最大となる偏角を求め、この最大となる偏角を認識対象物の傾きとする第6工程#8、#9とを有する。

Claim (excerpt)：

認識対象物の濃淡画像を2次元多値画像としてメモリに格納する第1工程と、前記2次元多値画像上に複数のサンプリング点を設定する第2工程と、前記第2工程で設定された各サンプリング点において、2次元多値画像上の全ての方向の中で、輝度勾配が最大となる方向に所定の角度を加えた偏角と輝度勾配の大きさとを求める第3工程と、前記第3工程の処理結果から、前記輝度勾配の大きさを頻度の重みとして偏角別の最大輝度勾配発生頻度を表す偏角ヒストグラムを作成する第4工程と、前記第4工程の偏角ヒストグラムにおいて最大輝度勾配発生頻度が最大となる偏角を求め、この最大となる偏角を認識対象物の傾きとする第5工程とを有することを特徴とする傾き検出方法。

IPC (4)：

G01B 11/26 ,  G06F 15/62 405 ,  G06F 15/70 370 ,  H05K 13/04