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J-GLOBAL ID：200903005846392642

多目的設計最適化支援方法及び多目的設計最適化支援プログラム

Inventor：
廣畑 賢治

About 廣畑 賢治

, 
川上 崇

About 川上 崇


Applicant, Patent owner：
株式会社東芝

About 株式会社東芝


Agent (8)： 三好 秀和 ,  三好 保男 ,  岩▲崎▼ 幸邦 ,  川又 澄雄 ,  中村 友之 ,  伊藤 正和 ,  高橋 俊一 ,  高松 俊雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002283922
Publication number (International publication number)：2004118719
Application date： Sep. 27, 2002
Publication date： Apr. 15, 2004
Summary：
【課題】多くの設計項目あるいは目的関数を同じ基準で比較できるように変換し、その変換した値をパラメータとした統一的評価指標を用いて、各設計案を比較算定できる多目的設計最適化支援手法を提供する。【解決手段】設計項目データについて、設計空間を標準化あるいは正規化する(S101)。標準化あるいは正規化した設計空間において、限界曲面を各設計項目について表現し(S102)、原点から限界曲面までの最短距離を算出する(S103)。各設計項目に関する最短距離をパラメータとした評価関数を用いて、設計ソリューション算定のための統一的評価指標を算出する(S104)。統一的評価指標及びコストを軸として、設計ソリューションをプロットしたマップを出力装置に表示する(S105)。設計ソリューションマップにおける最適解あるいはパレート解を求める(S106)。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
複数の設計項目に関わる設計ソリューションの評価を行う多目的設計最適化支援装置が、 前記複数の設計項目に関する設計空間を標準化あるいは正規化するステップと、 許容領域と非許容領域の界面あるいは不良が発生する領域と発生しない領域の界面である限界曲面を前記設計空間上で表現するステップと、 前記設計空間の原点から前記限界曲面までの最短距離を算出するステップと、前記最短距離をパラメータとした評価関数を用いて統一的評価指標を算出するステップと を含むことを特徴とする多目的設計最適化支援方法。
IPC (1)：
G06F17/50
FI (2)：
G06F17/50 604A ,  G06F17/50 612C
F-Term (2)：
5B046AA00 ,  5B046DA01
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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