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J-GLOBAL ID：200903005849382567
放射性汚染分布測定法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
小泉 伸 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992210755
Publication number (International publication number)：1994034761
Application date： Jul. 15, 1992
Publication date： Feb. 10, 1994
Summary：
【要約】【目的】 比較的広範囲にわたる放射線汚染を、簡便な方法で、かつ、定量的に放射線汚染の測定を行い、必要に応じて放射線の種類の弁別を行うことを目的とする。【構成】 シンチレータシート(1A)を被測定物に密着貼付し、シンチレータシート(1A)を見込むように冷却CCDカメラ(2)を配置し、放射線によりシンチレータシート(1A)からの発せられる微弱光を冷却CCDカメラ(2)で撮像することにより放射性汚染の分布を測定し、放射線の汚染箇所を特定するために、シンチレータシート(1A)上にポジションマーカー(14)を設ける。放射線の種類を弁別するには、2枚のシンチレータシート(1A,1B)を順次重ねて放射線を測定する。
Claim (excerpt)：
放射線の吸収により発光する放射線検出シートを被測定物に密着貼付し、前記放射線検出シートを見込むように二次元光検出器を配置することにより放射性物質による汚染分布を測定することを特徴とする放射性汚染分布測定法。
IPC (2)：
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