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J-GLOBAL ID：200903005852253085

試験手順生成装置及び試験手順生成方法及び試験手順生成プログラム及び記録媒体

Inventor： 二村 祐地
Applicant, Patent owner： 三菱電機株式会社
Agent (1)： 溝井 章司 (外5名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002018209
Publication number (International publication number)：2003216454
Application date： Jan. 28, 2002
Publication date： Jul. 31, 2003
Summary：

【要約】【課題】 プログラム開発効率を向上させる試験手順生成装置を提供する。【解決手段】 試験手順生成装置は、動作と、動作に基づく状態間の遷移との仕様を定義する動作フローを記憶する動作フロー記憶部3と、上記動作フロー記憶部3に記憶された動作フローを解析し、第一の状態から第二の状態へ至る遷移をノードに対応づけ、状態間の遷移を有向線分に対応付けるグラフを生成し、生成したグラフの構造に基づいてノードを削除する削除順序を定め、上記削除順序に従ってノードを削除してグラフを簡略化し、上記グラフを用いて、第一の状態から第二の状態へ至る遷移の順序関係を示すパス式を生成する動作フロー解析部4と、上記パス式に基づいて、上記遷移の順序関係に沿った試験パスを生成する試験手順生成部5と、上記試験パスに基づいて、試験を行うための手順を出力する試験手順出力部6とを備える。

Claim (excerpt)：

動作と、この動作に基づく状態間の遷移との仕様を定義する動作フローを入力し、入力した動作フローを解析して第一の状態から第二の状態へ至る遷移を判定し、上記状態をノードに対応づけ、状態間の遷移を有向線分に対応付けるグラフを生成し、生成したグラフの構造に基づいてノードを削除する削除順序を定め、上記削除順序に従ってノードを削除することによってグラフを簡略化し、簡略化したグラフを用いて、上記第一の状態から上記第二の状態へ至る遷移の順序関係を示すパス式を生成する動作フロー解析部と、上記動作フロー解析部が生成したパス式に基づいて、上記遷移の順序関係に沿った試験パスを生成する試験手順生成部と、上記試験手順生成部が生成した試験パスに基づいて、試験を行うための手順を出力する試験手順出力部とを備えることを特徴とする試験手順生成装置。

F-Term (2)：

5B042HH17 ,  5B042HH49