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J-GLOBAL ID:200903005919265377
計算機式断層写真法システムにおいて基準チャンネルの閉塞を検出する方法及びシステム
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
生沼 徳二
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997331551
Publication number (International publication number):1998225453
Application date: Dec. 02, 1997
Publication date: Aug. 25, 1998
Summary:
【要約】【課題】 計算機式断層写真法システムの経費を増大させずに投影データをより効率的に正規化することのできる基準チャンネルの閉塞を検出する方法及びシステムを提供する。【解決手段】 本発明に係るシステム10は、X線源14と、検出器18と、基準チャンネルとを含んでいる。関心のある物体を走査しているときに、X線源14にはX線源電流が供給され、X線源14は、検出器18及び基準チャンネルに向かってX線ビーム16を投射する。検出器18は、X線ビーム16によって入射されたときに、関心のある物体の画像を再構成するための投影データを発生する。基準チャンネルは、X線ビーム16によって入射されたときに、実際の基準チャンネル信号を発生するように構成されている。X線源電流に従って、期待される基準信号が決定される。次いで、期待される基準信号を利用して投影データを正規化する。
Claim (excerpt):
X線ビームを放出して関心のある物体を走査するX線源を含んでいる計算機式断層写真法システムにおいて基準チャンネルの閉塞を検出する方法であって、前記システムは、前記物体の画像を再構成するために投影データを用いており、前記システムは更に、前記X線ビームにより入射されたときに実際の基準チャンネル信号を発生するように構成されている基準チャンネルを含んでおり、供給されたX線源電流を決定する工程と、期待される基準信号を決定する工程とを備えた計算機式断層写真法システムにおいて基準チャンネルの閉塞を検出する方法。
IPC (3):
A61B 6/03 350
, A61B 6/03 320
, G06T 1/00
FI (3):
A61B 6/03 350 G
, A61B 6/03 320 P
, G06F 15/62 390 B
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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X線CT装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-286797
Applicant:株式会社島津製作所
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特開昭52-104890
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特開平1-310644
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特開平4-253848
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X線CT装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-146315
Applicant:株式会社日立メディコ
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