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J-GLOBAL ID:200903005939945994

導電膜付き基体およびその製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000363003
Publication number (International publication number):2002170430
Application date: Nov. 29, 2000
Publication date: Jun. 14, 2002
Summary:
【要約】【課題】成膜後の加熱処理や膜表面の研磨などの複雑な製造工程が不要な、表面に凹凸が少ない導電膜付き基体およびその製造方法の提供。【解決手段】基体上に、酸化ジルコニウムを主成分とする下地膜が1nm以上150nm以下の膜厚で形成され、該下地膜上に、インジウムと錫との酸化物を主成分とする導電膜が形成され、前記導電膜表面の平均表面粗さRaが3.0nm以下であることを特徴とする導電膜付き基体、および、その製造方法。
Claim (excerpt):
基体上に、酸化ジルコニウムを主成分とする下地膜が1nm以上150nm以下の膜厚で形成され、該下地膜上に、インジウムと錫との酸化物を主成分とする導電膜が形成され、前記導電膜表面の平均表面粗さRaが3.0nm以下であることを特徴とする導電膜付き基体。
IPC (7):
H01B 5/14 ,  B32B 7/02 104 ,  B32B 9/00 ,  C03C 17/34 ,  G02F 1/1333 505 ,  G02F 1/1343 ,  H01B 13/00 503
FI (7):
H01B 5/14 A ,  B32B 7/02 104 ,  B32B 9/00 A ,  C03C 17/34 Z ,  G02F 1/1333 505 ,  G02F 1/1343 ,  H01B 13/00 503 B
F-Term (40):
2H090HA04 ,  2H090HB02X ,  2H090HC01 ,  2H090HC03 ,  2H090JB02 ,  2H090JB03 ,  2H092HA04 ,  2H092MA04 ,  2H092MA05 ,  2H092NA16 ,  2H092NA19 ,  4F100AA17C ,  4F100AA20 ,  4F100AA27B ,  4F100AA33C ,  4F100AG00 ,  4F100AT00A ,  4F100BA03 ,  4F100BA07 ,  4F100BA10A ,  4F100BA10C ,  4F100EH66 ,  4F100GB41 ,  4F100JG01 ,  4F100JG01C ,  4F100JK15 ,  4F100YY00B ,  4F100YY00C ,  4G059AA08 ,  4G059AB11 ,  4G059AC12 ,  4G059GA01 ,  4G059GA04 ,  4G059GA12 ,  5G307FA01 ,  5G307FA02 ,  5G307FB01 ,  5G307FC03 ,  5G323BA02 ,  5G323BB05
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
  • 導電性積層体
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平9-144996   Applicant:三菱化学株式会社

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