Pat
J-GLOBAL ID:200903005939945994
導電膜付き基体およびその製造方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000363003
Publication number (International publication number):2002170430
Application date: Nov. 29, 2000
Publication date: Jun. 14, 2002
Summary:
【要約】【課題】成膜後の加熱処理や膜表面の研磨などの複雑な製造工程が不要な、表面に凹凸が少ない導電膜付き基体およびその製造方法の提供。【解決手段】基体上に、酸化ジルコニウムを主成分とする下地膜が1nm以上150nm以下の膜厚で形成され、該下地膜上に、インジウムと錫との酸化物を主成分とする導電膜が形成され、前記導電膜表面の平均表面粗さRaが3.0nm以下であることを特徴とする導電膜付き基体、および、その製造方法。
Claim (excerpt):
基体上に、酸化ジルコニウムを主成分とする下地膜が1nm以上150nm以下の膜厚で形成され、該下地膜上に、インジウムと錫との酸化物を主成分とする導電膜が形成され、前記導電膜表面の平均表面粗さRaが3.0nm以下であることを特徴とする導電膜付き基体。
IPC (7):
H01B 5/14
, B32B 7/02 104
, B32B 9/00
, C03C 17/34
, G02F 1/1333 505
, G02F 1/1343
, H01B 13/00 503
FI (7):
H01B 5/14 A
, B32B 7/02 104
, B32B 9/00 A
, C03C 17/34 Z
, G02F 1/1333 505
, G02F 1/1343
, H01B 13/00 503 B
F-Term (40):
2H090HA04
, 2H090HB02X
, 2H090HC01
, 2H090HC03
, 2H090JB02
, 2H090JB03
, 2H092HA04
, 2H092MA04
, 2H092MA05
, 2H092NA16
, 2H092NA19
, 4F100AA17C
, 4F100AA20
, 4F100AA27B
, 4F100AA33C
, 4F100AG00
, 4F100AT00A
, 4F100BA03
, 4F100BA07
, 4F100BA10A
, 4F100BA10C
, 4F100EH66
, 4F100GB41
, 4F100JG01
, 4F100JG01C
, 4F100JK15
, 4F100YY00B
, 4F100YY00C
, 4G059AA08
, 4G059AB11
, 4G059AC12
, 4G059GA01
, 4G059GA04
, 4G059GA12
, 5G307FA01
, 5G307FA02
, 5G307FB01
, 5G307FC03
, 5G323BA02
, 5G323BB05
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
-
導電性積層体
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-144996
Applicant:三菱化学株式会社
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