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J-GLOBAL ID:200903005984380655

線状図形の解析方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 西川 惠清 ,  森 厚夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006348544
Publication number (International publication number):2008158904
Application date: Dec. 25, 2006
Publication date: Jul. 10, 2008
Summary:
【課題】画像内の線状図形に対して細線化を行わずに線要素を検出し、ひとつながりの線要素を誤りなく抽出する線状図形の解析方法を提供する。【解決手段】塊領域抽出手段1は、複数の線要素で構成される線状図形の画像から線状図形が占める領域を塊領域として切り出す。参照点グルーピング手段2は、塊領域の内側において互いに離間した複数の参照点を配置し、互いに他の参照点同士を連結した連結線分のうち塊領域の内側のみを通る連結線分で連結される参照点の一つの組合せをグループ候補とし、すべての参照点をいずれかのグループ候補に対応付ける。特異点検出手段3は、参照点のうち複数のグループ候補に対応付けられる参照点を特異点として検出する。線要素抽出手段4は、グループ候補と特異点との位置関係を用いて参照点の点列の連続性を評価し線要素に一対一に対応する参照点グループを抽出する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
複数の線要素で構成される線状図形の画像から線要素を個々に分離する線状図形の解析方法において、画像において線状図形が占める領域を塊領域として切り出す塊領域抽出手段と、塊領域の内側において互いに離間した複数の参照点を配置するとともに互いに他の参照点同士を連結した連結線分のうち塊領域の内側のみを通る連結線分で連結される参照点の一つの組合せをグループ候補としすべての参照点をいずれかのグループ候補に対応付ける参照点グルーピング手段と、参照点のうち複数のグループ候補に対応付けられる参照点を特異点として検出する特異点検出手段と、グループ候補と特異点との位置関係を用いて参照点の点列の連続性を評価し線要素に一対一に対応する参照点グループを抽出する線要素抽出手段とを具備することを特徴とする線状図形の解析方法。
IPC (1):
G06K 9/46
FI (1):
G06K9/46 B
F-Term (4):
5B064AB03 ,  5B064AB14 ,  5B064BA01 ,  5B064CA10
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3) Cited by examiner (5)
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