Pat

J-GLOBAL ID：200903006159988230

磁界分布の解析方法および装置

Inventor： 奥村 好延 ,  恩田 裕 ,  藤田 浩一
Applicant, Patent owner： シャープ株式会社
Agent (1)： 西教 圭一郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999183442
Publication number (International publication number)：2000346919
Application date： Jun. 29, 1999
Publication date： Dec. 15, 2000
Summary：

【要約】【課題】 磁界分布の解析のための入力を容易に可能にする。【解決手段】 マウスやキーボードなどを含むデータ入力部11に対して有限要素法による解析のためのパラメータを入力する際に、代表的な形状パラメータなどが画面に表示される。ユーザはパラメータを画面を参照して入力することができる。入力されたパラメータに基づいて解析対象の部材が画像として表示され、その結果を基にしてデータ入力部11からさらにパラメータの変更も可能である。データ入力部11にパラメータを変更する入力が行われ、入力されたパラメータの妥当性が確認されると、解析部15は有限要素法による解析を行い、解析結果表示部16で解析結果の表示が行われる。解析の進行情況は、計算プロセス表示部18によって解りやすく表示することができる。解析の対象として、着磁プロセスまで含めることもできる。

Claim (excerpt)：

マグネットを備える機器に形成される磁界分布の解析方法において、解析対象の機器に対して、解析を行うときに必要となる第1のパラメータの候補を複数種類予め決定しておき、表示画面上に前記予め決定された第1パラメータの候補を表示し、その中から必要な第1パラメータを決定して、該第1パラメータの特性を決める複数の第2パラメータについての入力を求め、入力された第1および第2パラメータに基づいて、該機器の磁界分布の解析を行い、解析結果を出力することを特徴とする磁界分布の解析方法。

F-Term (12)：

2G017AA07 ,  2G017AA08 ,  2G017AC09 ,  2G017BA11 ,  2G017BA15 ,  2G017BA17 ,  2G017BA18 ,  2G017CA02 ,  2G017CA09 ,  2G017CB18 ,  2G017CC01 ,  2G017CD14