Pat
J-GLOBAL ID:200903006288180826
紫外線吸収検出器のランプ寿命測定方法
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
小沢 信助
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1991156713
Publication number (International publication number):1993005701
Application date: Jun. 27, 1991
Publication date: Jan. 14, 1993
Summary:
【要約】【目的】高速液体クロマトグラフなどの検出器である紫外線吸収検出器の感度低下が、実際にランプ寿命に起因するものか或いは検出器自体の故障などによるものかをある程度判別できるようにすると共に、ランプ交換を行なうべき時期を知らせランプ寿命によって紫外線吸収検出器が使用できなくなるのを回避する紫外線吸収検出器のランプ寿命測定方法を提供する。【構成】紫外線吸収検出器の出力を受けて信号処理などを行なうマイクロコンピュ-タと、ランプ使用時間を測定するためのカウンタと、表示部を設け、前記カウンタとして分析時間をカウントする定周期タイマ-を用い、ランプがオンになったときにカウントを始めてランプ使用時間を測定するようにしたもの。
Claim (excerpt):
高速液体クロマトグラフなどの検出器である紫外線吸収検出器のランプ寿命を測定する方法において、紫外線吸収検出器の出力を受けて信号処理などを行なうマイクロコンピュ-タと、ランプ使用時間を測定するためのカウンタと、表示部とを具備し、前記カウンタとして分析時間をカウントする定周期タイマ-を用い、ランプがオンになったときにカウントを始めてランプ使用時間を測定することを特徴とする紫外線吸収検出器のランプ寿命測定方法。
IPC (4):
G01N 21/33
, G01N 21/17
, G06M 1/00
, G01N 30/86
Return to Previous Page