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J-GLOBAL ID：200903006299972309

検眼装置

Inventor： 小早川 嘉
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 日比谷 征彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992038583
Publication number (International publication number)：1993199993
Application date： Jan. 29, 1992
Publication date： Aug. 10, 1993
Summary：

【要約】【目的】 非接触で眼軸長を測定する。【構成】 電源1によって強度変調がかけられた光束を発する光源2から被検眼Eに至る光路O1上には、レンズ3、光分割部材4が配設され、光分割部材4の後方には結像レンズ5、瞳と略共役な位置には絞り6、ホトダイオード7が配設されている。角膜Ecと眼底Erの反射光は重ね合わされて合成光としてホトダイオード7で検出され、この検出信号から眼軸長が算出される。

Claim (excerpt)：

強度変調した入射光束を被検眼に投影する投影系と、被検眼角膜及び眼底の反射光の合成光を受光する受光系と、該受光系における合成光の受光信号の強度分布により眼軸長を求める測定手段とを有することを特徴とする検眼装置。