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J-GLOBAL ID：200903006310168282

インキ膜厚及び含水率の計測方法及び装置

Inventor： 尾崎 郁夫
Applicant, Patent owner： 三菱重工業株式会社
Agent (1)： 岡本 重文 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992010209
Publication number (International publication number)：1993193118
Application date： Jan. 23, 1992
Publication date： Aug. 03, 1993
Summary：

【要約】【目的】 墨色インキの膜厚及び含水率、及び墨色インキ以外のインキの膜厚及び含水率を計測できる。また印刷機の品質コントロールを墨色ユニツトを含む全ユニツトで行うことができる。【構成】 金属ローラ1の上方に配設したインキ共鳴周波数用マイクロストリップライン2aと、水共鳴周波数用マイクロストリップライン2bと、インキ及び水のどちらにも共鳴しない周波数で共鳴する参照用マイクロストリップライン2cとのそれぞれに共鳴周波数のマイクロ波励振電力を印加して、この印加したマイクロ波励振電力の損失電力からインキ膜厚及び含水率の少なくとも一方を演算する。

Claim (excerpt)：

金属ローラの上方に配設したインキ共鳴周波数用マイクロストリップラインと、水共鳴周波数用マイクロストリップラインと、インキ及び水のどちらにも共鳴しない周波数で共鳴する参照用マイクロストリップラインとのそれぞれに共鳴周波数のマイクロ波励振電力を印加して、この印加したマイクロ波励振電力の損失電力からインキ膜厚及び含水率の少なくとも一方を演算することを特徴としたインキ膜厚及び含水率の計測方法。

IPC (3)：

B41F 31/02 ,  G01B 17/02 ,  G01N 22/04

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 特開昭58-067287
  
• 特開昭59-014883
  
• 特開昭56-027299
  
• 特開昭58-177687
  
• 特開平2-060694