レーザ分光分析装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：吉田研二 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000400112
Publication number (International publication number)：2002202256
Application date： Dec. 28, 2000
Publication date： Jul. 19, 2002
Summary：

【要約】【課題】高精度に分析が可能なレーザ分光分析装置を提案すること。【解決手段】試料セル10を通過した周波数fで変調されたレーザ光を光検出器30で電気信号に変換して、位相器42,44を介して供給される位相が90度異なる二つの同期信号を用いてロックイン増幅器46a,46bで同期検波して信号強度を測定する。こうすれば、光検出器30で測定された電気信号の位相が変動しても、ロックイン増幅器46aとロックイン増幅器46bで得られた信号から被測定成分の分析量を演算することができる。この結果、同期信号の位相を予め調整する位相調整手段を設けなくとも精度よく被測定成分の量に関する情報を演算することができる。

Claim (excerpt)：

レーザ光を用いて試料に含まれる被測定成分を分光分析するレーザ分光分析装置であって、所定周波数の変調信号で前記レーザ光を変調し、前記レーザ光を前記試料に照射するレーザ照射手段と、前記試料を通過した前記レーザ光を受光し電気信号に変換する光電変換手段と、前記所定周波数の2倍の周波数を有する第1同期信号で前記電気信号を同期検波し第1信号を得る第1検波手段と、前記第1同期信号と同じ周波数であると共に前記第1同期信号と位相が90度異なる第2同期信号で前記電気信号を同期検波し第2信号を得る第2検波手段と、前記第1信号の信号強度と前記第2信号の信号強度を用いて前記被測定成分の光吸収スペクトルの吸収強度を求め、前記吸収強度を用いて前記被測定成分の量に関係する分析量を演算する演算手段と、を備えることを特徴とするレーザ分光分析装置。

IPC (2)：

G01N 21/35 , G01J 3/42

FI (2)：

G01N 21/35 Z , G01J 3/42 U

F-Term (28)：

2G020BA02 , 2G020BA12 , 2G020BA20 , 2G020CA02 , 2G020CB07 , 2G020CB23 , 2G020CB42 , 2G020CB51 , 2G020CB53 , 2G020CD03 , 2G020CD13 , 2G020CD22 , 2G020CD33 , 2G020CD36 , 2G059AA01 , 2G059BB01 , 2G059CC04 , 2G059DD12 , 2G059DD13 , 2G059EE01 , 2G059EE12 , 2G059GG01 , 2G059GG09 , 2G059HH01 , 2G059KK01 , 2G059MM04 , 2G059MM20 , 2G059NN09

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