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J-GLOBAL ID:200903006440075952

負イオン発生装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 田澤 博昭 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998153243
Publication number (International publication number):1999342192
Application date: Jun. 02, 1998
Publication date: Dec. 14, 1999
Summary:
【要約】【課題】 単位時間当たりに発生する負イオン数および単位時間当たりに対象空間に供給される負イオン数を増加させることができなかった。【解決手段】 筒状の接地電極13の開口15を上流側の第1位置18の横断面積よりも下流側の第2位置19の横断面積が小さいように構成し、放電電極12を第2位置19と整列するか、またはこの第2位置19よりも下流側に位置するように開口15内に配置し、高速化した気体流が放電電極付近で負イオン化されるようにして、単位時間当たりに発生する負イオン数を増加させる。また、放電電極22を、開口25内で径方向に配列された複数の針電極26から構成して単位時間当たりに発生する負イオン数を増加させる。
Claim (excerpt):
気体を取り込んで気体流を発生させる送気手段と、送気手段が発生させる気体流の下流側に位置する放電電極および接地電極と、これら放電電極と接地電極間でコロナ放電を誘発させる負のパルス電圧を放電電極に印加する電源装置とを備えた負イオン発生装置において、上記接地電極は上記気体流が通る貫通した開口を備えた筒状構造であり、上記開口は上流側の第1位置と下流側の第2位置を有し、第2位置の開口の横断面積は第1位置の開口の横断面積よりも小さいことを特徴とする負イオン発生装置。
IPC (2):
A61L 9/22 ,  H01T 23/00
FI (2):
A61L 9/22 ,  H01T 23/00
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

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