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J-GLOBAL ID：200903006440524714
レーザを用いたガスの直接分析方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
光石 俊郎 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997156243
Publication number (International publication number)：1999002605
Application date： Jun. 13, 1997
Publication date： Jan. 06, 1999
Summary：
【要約】【課題】 発電プラント等における被径側部の成分組成、プラズマ温度及び微量成分濃度をオンラインで検出できるレーザを用いたガスの直接分析方法を提供するにある。【解決手段】 各種プラントの配管等1に光学窓6を設けると共にプラズマ用レーザをレンズ4を通してミラー15で反射させた後、前記光学窓6より投射して、前記配管等1内の被径側部2に集光し、前記被計測部2での気体及び固体をプラズマ化する一方、プラズマ発光並びに前記被計測部が発する蛍光をミラー15、分光器11を介してCCDカメラ12にて検出し、検出されたプラズマ信号により、前記被径側部の成分組成、プラズマ温度及び微量成分濃度を検出することを特徴とする。
Claim (excerpt)：
各種プラントの配管等に光学窓を設けると共にプラズマ用レーザをレンズを通してミラーで反射させた後、前記光学窓より投射して、前記配管等内の被計測部に集光し、前記被計測部での気体及び固体をプラズマ化する一方、プラズマ発光並びに前記被計測部が発する蛍光をミラー、分光器を介してCCDカメラにて検出し、検出されたプラズマ信号により、前記被計測部の成分組成、プラズマ温度及び微量成分濃度を検出することを特徴とするレーザを用いたガスの直接分析方法。
IPC (2)：
FI (2)：
G01N 21/63 Z
, G01N 21/64 Z
Cited by examiner (8)
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