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J-GLOBAL ID：200903006508544042

超微量窒素成分の測定装置

Inventor： 赤坂 秀市 ,  守屋 万紀子
Applicant, Patent owner： 三菱化学株式会社
Agent (1)： 川崎 隆夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995232086
Publication number (International publication number)：1997054074
Application date： Aug. 18, 1995
Publication date： Feb. 25, 1997
Summary：

【要約】【課題】 装置内での脱塩、脱ハロゲンを容易になし得るようにした超微量窒素成分の測定装置を得る。【解決手段】 塩分を含有する多量の被測定試料Aをキャリアガス(O2 )Bの導入に合わせて注入し、且つ加熱分解して酸化反応させる加熱反応手段11、14と、該加熱反応後の酸化窒素、ハロゲンを含む分解ガスC中から塩分とハロゲンとを除去処理する脱塩、脱ハロゲン手段19と、該脱塩、脱ハロゲン処理された分解ガスCを除湿処理する除湿手段24と、該除湿処理された分解ガスCをオゾン(O3 )Eと気相反応させて化学発光させる化学発光手段28、及び該化学発光手段28による発光信号データFから窒素分濃度を演算処理して出力するデータ処理手段30とを、少なくとも備えて構成する。

Claim (excerpt)：

測定対象の塩分を含有する多量の被測定試料を注入して行なう超微量窒素成分の測定装置であって、前記塩分を含有する多量の被測定試料をキャリアガス(O2 )の導入に合わせて注入し、且つ加熱分解して酸化反応させる加熱反応手段と、該加熱反応後の酸化窒素、ハロゲンを含む分解ガス中から塩分とハロゲンとを除去処理する脱塩、脱ハロゲン手段と、該脱塩、脱ハロゲン処理された分解ガスを除湿処理する除湿手段と、該除湿処理された分解ガスをオゾン(O3 )と気相反応させて化学発光させる化学発光手段、及び該化学発光手段による発光信号データから窒素分濃度を演算処理して出力するデータ処理手段とを、少なくとも備えることを特徴とする超微量窒素成分の測定装置。

IPC (2)：

G01N 31/00 ,  G01N 21/76

FI (2)：

G01N 31/00 F ,  G01N 21/76

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭53-077693
  
• 特開昭50-120690
  
• 特開昭56-093041