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J-GLOBAL ID：200903006529692564

光信号監視方法及び装置

Inventor：
竹下 仁士

About 竹下 仁士

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下村 博史

About 下村 博史

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白垣 達哉

About 白垣 達哉

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逸見 直也

About 逸見 直也


Applicant, Patent owner：
日本電気株式会社

About 日本電気株式会社


Agent (1)： 鈴木 康夫 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998167152
Publication number (International publication number)：2000004260
Application date： Jun. 15, 1998
Publication date： Jan. 07, 2000
Summary：
【要約】【課題】 伝送光信号を伝送信号速度によらず1ビット単位で監視可能とする。【解決手段】 光信号品質監視装置203は、所望の光信号を光受信機202により光電気変換された電気信号が入力される。光信号品質監視回路203は、電圧振幅閾値と位相閾値を設定することにより入力電気信号ビットがハイレベルであるかローレベルであるかのビット判定回路204と205を備えている。このビット判定回路204と205の出力が出力排他的論理和回路206で排他的論理和され、誤り数積算回路207であらかじめ定められた時間内の誤り数が積算される。誤り数積算回路207は、あらかじめ定められた誤り数に対する閾値を越えた場合、外部に品質劣化障害警報を通知することができる。
Claim (excerpt)：
波長多重及び光ネットワークにおける光信号監視方法であって、受信した光信号を電気信号に変換するとともに、該変換された電気信号から伝送信号クロックを抽出し、前記抽出した伝送信号クロックから任意にずらした位相閾値を有するN(N≧2)個のクロックをそれぞれ生成し、前記生成したN個のクロックと、該N個のクロックに対応してそれぞれ設定された電圧振幅閾値に基づいて、前記電気信号のビットを識別してN個のビット識別信号をそれぞれ出力し、前記出力されたN個のビット識別信号の論理演算を行うことにより、前記受信した光信号の品質評価を行うことを特徴とする光信号品質監視方法。
IPC (11)：
H04L 25/02 302 ,  H03K 5/00 ,  H03K 5/15 ,  H04B 1/74 ,  H04B 10/08 ,  H04B 10/28 ,  H04B 10/26 ,  H04B 10/14 ,  H04B 10/04 ,  H04B 10/06 ,  H04L 25/08
FI (7)：
H04L 25/02 302 Z ,  H04B 1/74 ,  H04L 25/08 Z ,  H03K 5/00 K ,  H03K 5/15 P ,  H04B 9/00 K ,  H04B 9/00 Y
F-Term (38)：
5J039EE12 ,  5J039KK01 ,  5J039KK09 ,  5J039KK11 ,  5J039MM08 ,  5J039MM11 ,  5J039MM12 ,  5J039NN01 ,  5K002AA03 ,  5K002BA06 ,  5K002DA02 ,  5K002DA05 ,  5K002DA09 ,  5K002EA05 ,  5K002EA33 ,  5K002FA01 ,  5K021AA05 ,  5K021AA06 ,  5K021BB01 ,  5K021BB07 ,  5K021CC13 ,  5K021DD02 ,  5K021EE04 ,  5K021FF11 ,  5K029AA01 ,  5K029CC04 ,  5K029DD02 ,  5K029HH01 ,  5K029HH08 ,  5K029HH14 ,  5K029HH26 ,  5K029JJ01 ,  5K029KK01 ,  5K029KK05 ,  5K029KK11 ,  5K029KK27 ,  5K029LL12 ,  5K029LL15
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (18)
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