Pat
J-GLOBAL ID:200903006607441972
超音波内視鏡システム
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
伊藤 進
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000036968
Publication number (International publication number):2001224594
Application date: Feb. 15, 2000
Publication date: Aug. 21, 2001
Summary:
【要約】【課題】超音波内視鏡に測定対象物の弾性情報を画像化して診断に用いる手法を有効に適用する。【解決手段】超音波内視鏡1は、先端に構成された超音波トランスデューサーによって超音波を発射し、生体からの反射信号を受信すると共に、生体組織に変位を加える。超音波観測装置2は、変位が加えられた生体組織からの反射信号を用いた演算によって、硬さ画像を取得し、モニター5上に表示させる。これにより、超音波内視鏡を用いた生体組織の硬さ計測が可能となり、診断に用いることができる。
Claim (excerpt):
内視鏡先端部に超音波トランスデューサーを設け、前記超音波トランスデューサーから超音波信号を送受信して、測定対象物の超音波断層画像を生成する超音波内視鏡システムにおいて、1画面分の測定対象物の超音波反射信号の少なくとも一部を、少なくとも2画面分記憶する記憶手段と、前記記憶した超音波反射信号を呼び出して、計算処理で画面間の測定対象物の超音波内視鏡先端部に対する変位分布を求める変位検出手段と、前記変位検出手段の計算結果より、変位率分布を求める変位率検出手段と、変位率検出手段で求めた変位率分布を画像化する画像化手段と、画像化手段で生成された画像を表示するモニターと、を有することを特徴とする超音波内視鏡システム。
IPC (7):
A61B 8/12
, A61B 1/00 300
, A61B 8/08
, A61B 8/14
, G02B 23/24
, G06T 1/00 290
, H04N 7/18
FI (8):
A61B 8/12
, A61B 1/00 300 F
, A61B 8/08
, A61B 8/14
, G02B 23/24 B
, G06T 1/00 290 D
, H04N 7/18 M
, H04N 7/18 Q
F-Term (57):
2H040GA10
, 2H040GA11
, 4C061AA00
, 4C061BB00
, 4C061CC00
, 4C061DD03
, 4C061FF35
, 4C061FF36
, 4C061HH04
, 4C061HH05
, 4C061HH51
, 4C061JJ11
, 4C061JJ17
, 4C301AA02
, 4C301BB03
, 4C301BB28
, 4C301BB30
, 4C301CC02
, 4C301DD06
, 4C301DD11
, 4C301EE11
, 4C301EE20
, 4C301FF05
, 4C301FF15
, 4C301GA15
, 4C301GB03
, 4C301GB06
, 4C301GC22
, 4C301GD10
, 4C301JB03
, 4C301JB30
, 4C301JB34
, 4C301JB38
, 4C301JC11
, 4C301KK12
, 4C301KK13
, 4C301LL03
, 4C301LL05
, 5B057AA07
, 5B057BA05
, 5B057BA19
, 5B057BA24
, 5B057CA12
, 5B057CB12
, 5B057DA03
, 5B057DA04
, 5B057DA08
, 5C054AA05
, 5C054CA08
, 5C054CC07
, 5C054CF05
, 5C054EB05
, 5C054FC15
, 5C054FE17
, 5C054GA04
, 5C054GB01
, 5C054HA12
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
-
超音波内視鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-271112
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
超音波診断装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-146748
Applicant:富士通株式会社
-
特表平5-505731
-
超音波診断装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-187935
Applicant:富士通株式会社
-
特開昭63-186621
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