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J-GLOBAL ID：200903006646545602

吸光度計

Inventor： 筒井 龍秀 ,  米澤 俵介 ,  山内 進 ,  福嶋 良助
Applicant, Patent owner： 株式会社堀場製作所
Agent (1)： 藤本 英夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994275987
Publication number (International publication number)：1996114538
Application date： Oct. 15, 1994
Publication date： May. 07, 1996
Summary：

【要約】【目的】 測定値のレベルに応じて測定周期を切り換えられるようにすることにより、必要以上の測定を行わない合理的な測定を行うことにより、ランニングコストの低減を図ることができる吸光度計を提供すること。【構成】 分析部Xが測定周期設定部Yからの測定開始信号aに基づいて測定を開始するように構成された吸光度計において、前記測定周期設定部Yを、複数の測定周期設定器41と、分析部Xからの測定値bが入力され、測定値bのレベル判定を行う複数のしきい値設定器42と、これら両設定器41,42の入力を受けて測定周期を切り換える測定周期設定器選択制御ユニット43と、この測定周期設定器選択制御ユニット43からの指令に基づいて測定開始信号を分析部Xに出力するタイマー制御ユニット44とから構成し、前記測定値aの大きさに応じて測定周期を変更するようにした。

Claim (excerpt)：

分析部が測定周期設定部からの測定開始信号に基づいて測定を開始するように構成された吸光度計において、前記測定周期設定部を、複数の測定周期設定器と、分析部からの測定値が入力され、測定値のレベル判定を行う複数のしきい値設定器と、これら両設定器の入力を受けて測定周期を切り換える測定周期設定器選択制御ユニットと、この測定周期設定器選択制御ユニットからの指令に基づいて測定開始信号を分析部に出力するタイマー制御ユニットとから構成し、前記測定値の大きさに応じて測定周期を変更するようにしたことを特徴とする吸光度計。

IPC (2)：

G01N 21/01 ,  G01N 21/78

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開昭63-088427
  
• 特開昭57-118157
  
• 特開昭47-027000
  
• 特開昭52-030485