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J-GLOBAL ID:200903006680433775
X線装置
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
秋田 収喜
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997296092
Publication number (International publication number):1999128212
Application date: Oct. 29, 1997
Publication date: May. 18, 1999
Summary:
【要約】【課題】 平面X線検出器を使用した場合におけるX線透視時およびX線撮影時のX線量を適正に制御することが可能なX線装置を提供すること。【解決手段】 X線を発生し被検体に照射するX線照射手段と、前記X線の照射野を制限するX線照射野制限手段と、前記被検体を透過した後のX線像を撮像する撮像手段と、前記被検体を透過したX線強度を計測するX線強度計測手段と、該計測値に基づいて照射X線のエネルギー分布および出力量を所定の値に調整するX線出力調整手段とを有するX線装置において、前記撮像手段は、半導体基板に複数個のX線検出素子を形成した平面撮像手段からなり、当該撮像手段のX線の入力面とは反対の側に前記X線強度計測手段を配置する。
Claim (excerpt):
X線を発生し被検体に照射するX線照射手段と、前記X線の照射野を制限するX線照射野制限手段と、前記被検体を透過した後のX線像を撮像する撮像手段と、前記被検体を透過したX線強度を計測するX線強度計測手段と、該計測値に基づいて照射X線のエネルギー分布および出力量を所定の値に調整するX線出力調整手段とを有するX線装置において、前記撮像手段は、半導体基板に複数個のX線検出素子を形成した平面撮像手段からなり、当該撮像手段のX線の入力面とは反対の側に前記X線強度計測手段を配置したことを特徴とするX線装置。
IPC (2):
A61B 6/00 300
, H05G 1/44
FI (2):
A61B 6/00 300 S
, H05G 1/44 A
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