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J-GLOBAL ID：200903006685136256

被検眼水晶体の混濁度定量評価方法および眼科装置

Inventor： 加藤 康夫 ,  塩入 隆 ,  福間 康文 ,  岡崎 芳郎 ,  内藤 朋子
Applicant, Patent owner： 株式会社トプコン
Agent (1)： 西脇 民雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004243173
Publication number (International publication number)：2006055547
Application date： Aug. 24, 2004
Publication date： Mar. 02, 2006
Summary：

【課題】 被検眼水晶体の混濁度定量評価方法であって、徹照像に基づく水晶体の混濁程度を客観的に定量評価する。 【解決手段】 被検眼200の水晶体220を眼底230側から照明して得られた徹照像Sの濃度ヒストグラムHに対して、横軸(濃度軸)と平行な水平線(度数Niの線)を設定し、この水平線と濃度ヒストグラムHとが交差した2つの交点から垂線を下ろし、垂線を境界とする濃度ヒストグラムHの両端裾野部分について度数総和Ni1,Ni2を求め、両度数総和の差(度数差:ΔNi(=Ni2-Ni1))を求め、この度数差ΔNiを濃度ヒストグラムHの全体度数Nで除算して度数差ΔNiの率Riを算出し、設定度数Niを増加させる方向に変化させてこの率Riの変動を監視し、変動が無くなった(率Riが略一定)ときの設定度数Niにおける率Riを、水晶体220の混濁率Rと規定する。【選択図】 図4

Claim (excerpt)：

被検眼の水晶体を眼底側から照明して得られた徹照像に基づいて、前記水晶体の混濁程度を定量化する被検眼水晶体の混濁度定量評価方法であって、 (1)前記徹照像の濃度ヒストグラムを生成し、 (2)所定の度数Niを設定し、 (3)前記濃度ヒストグラムのうち最大度数Nmaxに対応する濃度Dmを挟んで濃度の薄い側と濃度の濃い側とにおいて前記所定の度数Niに対応した第1濃度Di1(<Dm)と第2濃度Di2(>Dm)とをそれぞれ求め、 (4)前記濃度ヒストグラムのうち前記第1濃度Di1以下の濃度範囲における度数総和Ni1と、前記濃度ヒストグラムのうち前記第2濃度Di2以上の濃度範囲における度数総和Ni2とを求め、 (5)前記第2濃度Di2以上の濃度範囲に対応した度数総和Ni2と前記第1濃度Di1以下の濃度範囲に対応した度数総和Ni1との度数差ΔNi(=Ni2-Ni1)を算出し、 (6)前記濃度ヒストグラムの全体度数Nに対する前記度数差ΔNiの割合Riを求め、 (7)前記(2)における所定の度数Niを順次変化させて、この変化の都度、前記(3)から前記(6)までの一連の操作を繰り返し、 (8)前記設定度数Niの変化ごとに求められた前記割合Riの変動に基づいて、前記混濁程度を表す指標値を規定することを特徴とする被検眼水晶体の混濁度定量評価方法。

IPC (1)：

A61B 3/10

FI (1)：

A61B3/10 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 特開平4-244133号公報
  
• 眼科検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-000003   Applicant：キヤノン株式会社