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J-GLOBAL ID：200903006693251757

限外濾過膜の完全性試験方法

Inventor： 大澤 直樹 ,  野田 寿昭 ,  中野 博夫 ,  佐藤 哲男
Applicant, Patent owner： 旭化成工業株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994235003
Publication number (International publication number)：1996094514
Application date： Sep. 29, 1994
Publication date： Apr. 12, 1996
Summary：

【要約】【目的】 迅速且つ簡便に測定でき、粒子除去性能を予測できる限外濾過膜の完全性試験方法を提供することである。【構成】 湿潤液で濡らした限外濾過膜に湿潤液と混和しない透過液を一定圧力で透過させた後、透過液の供給を遮断し、次いで測定される一定時間経過後の圧力低下値から粒子除去性能を予測する完全性試験方法、及び限外濾過膜の本来の孔径分布から外れた大きな孔の存在の有無を検知できる試験と組み合わせることにより、完全性試験の信頼性が非常に向上する完全性試験方法。

Claim (excerpt)：

湿潤液で濡らした限外濾過膜に湿潤液と混和しない透過液を一定圧力(保持圧)で透過させた後、透過液の供給を遮断し、一定時間経過後の圧力低下値/又は一定圧力(到達圧)まで低下するのに要する時間を測定することを特徴とする限外濾過膜の完全性試験方法。