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J-GLOBAL ID：200903006798364549
碍子汚損度測定装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
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Agent (1)：
津田 直久
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993323686
Publication number (International publication number)：1995181118
Application date： Dec. 22, 1993
Publication date： Jul. 21, 1995
Summary：
【要約】【目的】 装置を小型として、碍子表面の一部を洗浄計測するだけでも、該碍子の汚損度を正確に測定することが出来るようにする。【構成】 パイロット碍子1を回転させて該碍子1の表面に汚損物を均一に付着させる回転支持装置2と、前記パイロット碍子1における表面の一部を洗浄水により洗浄して前記汚損物を洗い出す洗浄装置3と、前記洗浄水で洗い出された汚損物の濃度を計測する濃度計測装置4とを備え、前記洗浄装置3及び濃度測定装置4による洗浄乃至濃度測定時以外は、前記パイロット碍子1を前記回転支持装置2を介して回転させる。
Claim (excerpt)：
碍子の表面に付着する汚損物による汚損度を測定する碍子汚損度測定装置であって、パイロット碍子(1)を前記碍子の設置位置近くに支持すると共に該パイロット碍子(1)を回転させて該碍子(1)の表面に汚損物を均一に付着させる回転支持装置(2)と、前記パイロット碍子(1)における表面の一部を洗浄水により洗浄して前記汚損物を洗い出す洗浄装置(3)と、前記洗浄水で洗い出された汚損物の濃度を計測する濃度計測装置(4)とを備えていることを特徴とする碍子汚損度測定装置。
IPC (2)：
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