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J-GLOBAL ID：200903006928300068

透過電子顕微鏡用試料傾斜操作方法

Inventor： 鈴木 茂
Applicant, Patent owner： 新日本製鐵株式会社
Agent (1)： 矢葺 知之 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992254625
Publication number (International publication number)：1994103948
Application date： Sep. 24, 1992
Publication date： Apr. 15, 1994
Summary：

【要約】【目的】 操作性に優れた二軸の試料回転機構を有する透過電子顕微鏡用試料傾斜操作方法を提供する。【構成】 二軸の試料回転機構を有する透過電子顕微鏡用試料ホルダーにおいて、試料の観察位置の初期の結晶方位と基準方位の関係を回転機構の回転角から求め、その方位関係から目標の方位までの回転角を計算し、計算機の指令により回転角成分だけ二軸の回転機構を同時に操作し試料を傾斜させる。【効果】 結晶性試料の観察において試料を目標の結晶方位に回転させるときに、簡便に試料を回転させることができる。そのため、透過電子顕微鏡において回折図形およびその条件下で像を観察するときの操作性が一段と向上する。

Claim (excerpt)：

二軸の試料回転機構による透過電子顕微鏡用試料の傾斜操作方法において、結晶性試料の初期方位と基準方位の方位関係を前記の二軸の試料回転機構のそれぞれの電動機の回転成分から求め、次に目標の結晶方位へ試料を傾斜するための前記二軸の試料回転機構の回転成分を初期方位、基準方位および目標方位の関係から計算機によって求め、その回転成分だけ前記の二軸の試料回転機構を同時に駆動させることによって試料を傾斜させることを特徴とする透過電子顕微鏡の試料傾斜操作方法。