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J-GLOBAL ID：200903006971806005

光パルス試験器

Inventor：
仲山 納生

About 仲山 納生

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押味 孝志

About 押味 孝志

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堀 重雄

About 堀 重雄

, 
玉腰 政昭

About 玉腰 政昭


Applicant, Patent owner：
アンリツ株式会社

About アンリツ株式会社


Agent (1)： 西村 教光 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999197658
Publication number (International publication number)：2001021451
Application date： Jul. 12, 1999
Publication date： Jan. 26, 2001
Summary：
【要約】【課題】 同一階層で選択可能なメニューを一画面上で視認でき、画面の階層数及びキーの操作数を低減して操作性の向上を図る。【解決手段】 操作パネル1の主画面2上には、メニューキー4の押下によって副画面3がポップアップ表示される。副画面3は、通常の測定以外の応用機能に関する項目が配置された大項目メニュー10のウインドゥと、大項目メニュー10毎に選択可能な項目がファンクションキー5(F1〜F5)に対応して配置された小項目メニュー11のウインドゥからなる。副画面3が表示された状態で、ファンクションキーのいずれかが押下されると、そのキーに対応する小項目メニュー11の機能の画面が主画面2上に表示される。
Claim (excerpt)：
被測定光ファイバ(W)に光パルスを入射し、この光パルスの入射に伴って前記被測定光ファイバから戻ってくる反射光を光-電気変換して信号処理することにより、所望の地点での前記被測定光ファイバの損失や障害点等の特性測定を基本測定として実行する光パルス試験器(31)において、少なくとも前記基本測定で得たデータを処理するための項目が配置された大項目メニュー(10)と、該大項目メニュー毎に選択可能な項目が機器本体に設けられたファンクションキー(5)に対応して配置された小項目メニュー(11)とを、前記機器本体に設けられたキーの押下により一つの副画面(3)として表示画面上にポップアップ表示する手段を備えたことを特徴とする光パルス試験器。
IPC (2)：
G01M 11/02 ,  G02B 6/00
FI (2)：
G01M 11/02 J ,  G02B 6/00 A
F-Term (3)：
2G086CC03 ,  2H038AA02 ,  2H038AA41
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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