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J-GLOBAL ID:200903007007046367

GaAs層の形成方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 大垣 孝
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998177559
Publication number (International publication number):2000012467
Application date: Jun. 24, 1998
Publication date: Jan. 14, 2000
Summary:
【要約】【課題】 より簡便にSi基板上へ高品質のGaAs層を得ること。【解決手段】 Si基板11上に、転位を消滅させる、あるいは転位の進行方向を変換させるようなGaの空孔を含むGaAs中間層19を形成する工程と、このGaAs中間層の表面にGaAs層21を形成する工程とを含む。
Claim (excerpt):
Si基板の上側に、気相成長法を用いてGaAs層を形成するにあたり、前記Si基板上側に、転位を消滅させる、あるいは転位の進行方向を変換させるようなGaの空孔を含むGaAs中間層を形成する工程と、該GaAs中間層の表面に、前記GaAs層を形成する工程とを含むことを特徴とするGaAs層の形成方法。
IPC (2):
H01L 21/205 ,  H01L 21/20
FI (2):
H01L 21/205 ,  H01L 21/20
F-Term (25):
5F045AA04 ,  5F045AB10 ,  5F045AB17 ,  5F045AC01 ,  5F045AC08 ,  5F045AD08 ,  5F045AD11 ,  5F045AE25 ,  5F045AF03 ,  5F045AF13 ,  5F045BB07 ,  5F045BB12 ,  5F045CA13 ,  5F045CB02 ,  5F045DA53 ,  5F045EE12 ,  5F045HA16 ,  5F052AA11 ,  5F052DA05 ,  5F052DB01 ,  5F052DB06 ,  5F052EA11 ,  5F052GC03 ,  5F052JA09 ,  5F052KA01

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