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J-GLOBAL ID：200903007010767008

光切断法による3次元形状測定装置

Inventor： 吉澤 徹 ,  大谷 幸利 ,  青柳 泰士
Applicant, Patent owner： 協南精機株式会社 ,  吉澤 徹 ,  大谷 幸利
Agent (1)： 土橋 博司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007241695
Publication number (International publication number)：2009074814
Application date： Sep. 19, 2007
Publication date： Apr. 09, 2009
Summary：

【課題】光切断法を原理とする3次元形状測定装置に関し、特に、物体に投影するスリット光パターンを液晶素子で作成することにより、紙幣のような3次元的な凹凸検査においてμmオーダーでの高精度な計測を可能としたものである。【解決手段】白色光源と、該白色光源と測定される物体の間に設けられ該物体の表面にスリット光を投影する液晶素子と、投影レンズとからなるスリット光投影光学系と、撮像レンズと、CCDカメラとからなるスリット光撮像光学系とを備え、画像データ解析手段により取得した前記スリット光で構成される画像データを解析して、物体の3次元座標を算出するようにしたことを特徴とする光切断法による3次元形状測定装置。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

白色光源やLED光源などの光源と、該光源と測定される物体の間に設けられ該物体の表面にスリット光を投影する液晶素子と、投影レンズとからなるスリット光投影光学系と、撮像レンズと、CCDカメラとからなるスリット光撮像光学系とを備え、画像データ解析手段により取得した前記スリット光で構成される画像データを解析して、物体の3次元座標を算出するようにしたことを特徴とする光切断法による3次元形状測定装置。

IPC (1)：

G01B 11/24

FI (1)：

G01B11/24 K

F-Term (22)：

2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065CC16 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF09 ,  2F065GG07 ,  2F065GG24 ,  2F065HH05 ,  2F065HH06 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL41 ,  2F065LL65 ,  2F065MM16 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ41

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 格子パターン投影法を用いた3次元形状測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-245272   Applicant：シチズン時計株式会社

Cited by examiner (4)

• 3次元情報取り込み方式
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-328670   Applicant：ファナック株式会社
• 3次元形状測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-283803   Applicant：フジノン株式会社
• 凹版印刷物とその他の印刷物との識別方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-350527   Applicant：村岡繁太郎
• 紙幣識別方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-107702   Applicant：村岡繁太郎

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• モアレ法とパターン投影法による高性能新紙幣識別センサーの開発