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J-GLOBAL ID:200903007054105681
超音波診断装置
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995170493
Publication number (International publication number):1996336532
Application date: Jun. 14, 1995
Publication date: Dec. 24, 1996
Summary:
【要約】【目的】スクリーニング検査における画像条件の変更を簡略化し操作性、診断効率の向上を図る。【構成】画像条件をメインコントローラ54における実行順にステップ毎にパネルI/F回路62を介して画像条件記憶回路64へ格納する。そして、格納した画像条件をマルチオペレーション操作器65の操作により読み出してパネルコントローラ63を介してメインコントローラ54に設定し、撮影を開始することでメインコントローラ54は各ステップの画像条件を実行して画像を得る。これにより、簡単な操作でスクリーニング検査時の各ステップの撮影の画像条件を変更することができ、操作性が向上する。
Claim (excerpt):
超音波を送受波する探触子と、受波した超音波信号に遅延処理や加算を行う信号処理回路と、信号処理された超音波信号を画像に変換すると共に画像処理を行うスキャンコンバータと、スキャンコンバータからの画像を表示する表示器と、これらの各手段を制御すると共にBモード等の検査モードや表示深度等の検査条件等の画像条件を実行する制御部とを有し、一人の被検体に対し決められた画像条件で決められたステップ数の撮影を行い、ステップ毎に画像条件を変更して任意の画像を撮影するスクリーニング検査を行う超音波診断装置において、前記画像条件をステップ毎に格納する画像条件格納手段と、画像条件の格納、読み出し及び上記制御部への設定を操作する画像条件操作手段とを備えたことを特徴とする超音波診断装置。
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
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特開平2-082951
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特開平3-168127
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特開平4-336053
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プロダクションシステムを利用した制御装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-069579
Applicant:株式会社安川電機
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特開平3-140147
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特開平3-170136
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特開昭62-258641
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特開昭59-115031
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