Pat

J-GLOBAL ID：200903007217232279

誘電定数の測定方法

Inventor： 中山 明 ,  清水 和哉
Applicant, Patent owner： 京セラ株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991195303
Publication number (International publication number)：1993034388
Application date： Aug. 05, 1991
Publication date： Feb. 09, 1993
Summary：

【要約】【目的】 測定の誤差の極力低減し、低誘電率、低誘電正接の材料に対し精度のよい誘電定数を測定する方法を提供する。【構成】 一対の電極が両面に形成された平板状被測定誘電体試料を内部導体および外部導体と電気的に接続して同軸線路を被測定試料で構成した平板コンデンサで終端した回路を構成し、終端部における反射係数を測定して被測定試料の誘電定数(誘電率や誘電正接)を求める測定方法において、一定の誘電率および誘電正接を有するサファイア等の単結晶を標準試料として試料周辺の残留インピーダンスおよび浮遊アドミタンスを測定し、これらの測定値により被測定試料の誘電率および誘電正接の実測値を補正する。

Claim (excerpt)：

一対の電極が両面に形成された平板状被測定誘電体試料を内部導体および外部導体と電気的に接続して同軸線路を被測定試料で構成した平板コンデンサで終端した回路を構成し、該終端部における反射係数を測定して被測定試料の誘電定数を求める測定方法において、一定の誘電率および誘電正接を有する単結晶を標準試料として試料周辺の残留インピーダンス、浮遊アドミタンスを測定し、被測定試料の誘電率および誘電正接の実測値を補正することを特徴とする誘電定数の測定方法。

IPC (2)：

G01R 27/26 ,  G01N 27/22