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J-GLOBAL ID：200903007247275959

光学式再生方法及び装置並びに光学式記録担体

Inventor： 守屋 充郎 ,  石橋 広通 ,  太田 威夫 ,  杉原 泰宏
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 小鍜治 明 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994034380
Publication number (International publication number)：1994314441
Application date： Mar. 04, 1994
Publication date： Nov. 08, 1994
Summary：

【要約】【目的】 再生専用の光学式記録担体の情報密度を高めることのできる光学式再生方法及び装置並びに光学式記録担体を提供する。【構成】 記録担体上は凹凸の情報ピット301が形成されている基板305とその上に設けられた熱感応材料膜307とより構成される。熱感応材料膜307は高温になると反射率が低下し、低温になると元の高反射率の状態に戻る特性を有する。情報を再生する際、所定の光ビームパワー304を記録担体上に照射すると、ピット301部は熱が封じ込められるために高温となり、ピット301部上の熱感応材料膜307は低反射率状態となる。また、ピット301とピット301の間の平坦部302は熱の放射が高いために温度上昇が低く、熱感応材料膜307の状態は変化しない。従って、光ビーム304が照射されたピット301部上からの反射光量がより減少するので再生信号振幅が大きくなる。

Claim (excerpt)：

凹または凸の情報ピットを有する基板と、該基板上に形成された、所定の温度Tを越えると高反射率状態から低反射率状態に変化し、かつ該温度T以下となると元の高反射率状態となる熱感応材料膜とを備えた記録担体に対して行う光学式再生方法であって、該記録担体上に、該ピット上の該熱感応材料膜の温度が該温度T以上となり、かつ該ピットと該ピットの間の平坦部上の該熱感応材料膜の温度が該温度T以下となる所定の一定の光ビーム光量を照射することにより、該記録担体上に記録されている情報を読み取る光学式再生方法。

IPC (2)：

G11B 7/24 538 ,  G11B 7/00

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平3-157830
  
• 特開平2-113451
  
• 特開平4-167237