Pat

J-GLOBAL ID：200903007420646160

磁気計測法

Inventor： 村上 美廣
Applicant, Patent owner： 村上 美廣
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991276044
Publication number (International publication number)：1993034426
Application date： Jul. 29, 1991
Publication date： Feb. 09, 1993
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】本発明は、微小な磁束密度を簡便にしかも高精度で計測するための技術である。【構成】強磁性体コアCにコイルSを巻き、このコイルSに発振器1から交流電流をインピーダンスを介して供給し、さらに前記コイルSに直流電流を同時に供給して前記コイルS内の強磁性体コアCを磁化し、コイルSに得られた出力電圧をヒステリシス特性を保持したコンパレーターに加え、パルス幅変調波を作り、この出力電圧をデテクター5で直流電圧に変換し、この出力電圧の値から前記強磁性体コアCと交差する磁束密度を計測する。

Claim (excerpt)：

強磁性体に巻いたコイルに、発振器から交流電流を流し、コイルに得られる電圧をコンパレータ-に加えてパルス変調波を作り、この出力をデテクターに加えて直流に変換し、その出力から前記した強磁性体に交差する磁束を、計測する磁気計測法において、前記コイルに直流電流を同時に流し微小な磁束に対する検出感度を向上したことを特長とする磁気計測法。