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J-GLOBAL ID：200903007424700444

プリント基板の検査装置およびプリント基板の検査方法

Inventor： 佐々 泰志
Applicant, Patent owner： 大日本スクリーン製造株式会社
Agent (1)： 福島 祥人
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998144481
Publication number (International publication number)：1999337498
Application date： May. 26, 1998
Publication date： Dec. 10, 1999
Summary：

【要約】【課題】 部品実装直前のプリント基板におけるパターンの欠陥検査を行うプリント基板の検査装置および検査方法を提供する。【解決手段】 プリント基板の検査装置は入力用カメラ2により撮像したプリント基板1の画像に対し、プリント基板1上のパターン領域を識別する領域分割部5と、各パターン領域に対し欠陥の検出処理を行う検査処理部6を有する検査部4を備える。領域分割部5は各パターン領域ごとに異なる色に基づいて領域情報を作成し、検査処理部6に出力する。検査処理部6は、各パターン領域ごとに異なるデザインルールを適用し、あるいはプリント基板1に対応する正規の参照画像との比較データを用いた比較検査法を適用し、各パターン領域ごとに適切な検査精度で欠陥の検出を行う。

Claim (excerpt)：

プリント基板に形成された互いに色の異なる複数のパターン領域の欠陥の有無を検査するプリント基板の検査装置であって、前記複数のパターン領域が形成された前記プリント基板を撮像する撮像手段と、前記プリント基板の各パターン領域の色に基づいて、前記撮像手段により得られた前記プリント基板の画像から各パターン領域を識別する領域識別手段と、前記領域識別手段により識別された各パターン領域ごとに予め定められた検査基準を用いて各パターン領域の欠陥の有無を検査する検査手段とを備えたことを特徴とするプリント基板の検査装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 外観検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-294307   Applicant：松下電器産業株式会社
• 特開昭62-288987
  
• 特開平4-125454