Pat

J-GLOBAL ID：200903007547837681

光学性能測定方法および装置

Inventor： 有賀 進 ,  大川 金保
Applicant, Patent owner： オリンパス光学工業株式会社
Agent (1)： 奈良 武
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991185260
Publication number (International publication number)：1993010850
Application date： Jun. 28, 1991
Publication date： Jan. 19, 1993
Summary：

【要約】[目的] 被検光学計のMTFを高精度に測定する。[構成] 被検光学系の透過波面収差を測定する干渉計部2と、被検光学系のフレア率を測定するフレア測定部3と、前記透過波面収差から被検光学系のMTFを算出し、このMTFと前記フレア率とからフレア率を考慮したMTFを算出する演算部4と、この演算部で算出されたMTFを表示する表示部5とを備えて測定装置1を構成する。演算部4が式M=2×M0/(2+E×(1+M0))により被検光学系のフレア率を考慮したMTF値(M)を算出するため、高精度に測定できる。

Claim (excerpt)：

被検光学系の透過波面収差から被検光学系のMTF値M0を測定すると共に、前記被検光学系のフレア率Eを測定し、式M=2×M0/(2+E×(1+M0))によりフレア率を考慮したMTF値Mを算出することを特徴とする光学性能測定方法。