Pat
J-GLOBAL ID:200903007570888706

採点支援方法、採点支援システム、採点支援装置、採点管理装置及びコンピュータプログラム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 河野 登夫 ,  河野 英仁
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005092491
Publication number (International publication number):2006277086
Application date: Mar. 28, 2005
Publication date: Oct. 12, 2006
Summary:
【課題】 正答が一意に定まらない設問に対する答案の採点、採点を行う採点者の評価、及び採点の基準の見直しを支援する採点支援方法、採点支援システム、採点支援装置、採点管理装置及びコンピュータプログラムを提供する。 【解決手段】 採点者に対し、採点支援装置1は、当該採点者による採点結果と、他の採点者による採点結果とを出力する。採点者の採点結果を管理する採点管理者に対し、採点管理装置2は、複数の採点者の採点結果が一致しない場合に、点数を含む採点結果及び採点根拠を出力し、最終的な採点結果の入力を受け付ける。また採点管理装置2は、採点者別の分析結果を集計して出力する。さらに採点管理装置2は、答案に対する採点結果を集計して出力する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
記述式試験の設問の答案に対する採点者毎の採点結果を受け付ける採点支援装置を用い、答案に対する採点を支援する採点支援方法において、 前記採点支援装置は、 一の答案に対応付けて、各採点者の夫々の採点結果を記録している採点結果データベースから、一の答案に対応する一の採点者の採点結果及び他の採点者の採点結果を抽出し、 抽出した採点結果を出力し、 一の採点者の採点結果の修正を受け付け、 修正した採点結果に基づいて、採点結果データベースに記録されている採点結果を更新する ことを特徴とする採点支援方法。
IPC (2):
G06Q 50/00 ,  G09B 19/00
FI (2):
G06F17/60 128 ,  G09B19/00 H
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
  • 特許第3579599号公報
  • 答案採点処理システム
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2002-181376   Applicant:日本電気エンジニアリング株式会社
Cited by examiner (6)
Show all
Article cited by the Patent:
Return to Previous Page