Pat
J-GLOBAL ID：200903007587637847
磁気抵抗効果型ヘッド及び該磁気抵抗効果型ヘッドの検査装置並びに前記磁気抵抗効果型ヘッドを搭載した磁気記憶装置
Inventor：
,
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
秋本 正実
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992216890
Publication number (International publication number)：1994060338
Application date： Aug. 14, 1992
Publication date： Mar. 04, 1994
Summary：
【要約】【目的】 ウエハー段階及び素子検査段階及び装置組込段階での過電流に対する素子破壊を防止し歩留向上を図った磁気抵抗効果型ヘッド及び該磁気抵抗効果型ヘッドの検査装置並びに該磁気抵抗効果型ヘッドを搭載した磁気記憶装置を提供すること。【構成】 磁気抵抗効果型素子にバイアス電流を与える一対の電極間に所定電流以上の電流が印加された場合に該電極間を短絡する保護回路を設け、ヘッド製造工程又は装置駆動時の過電流印加のときに保護回路が磁気抵抗効果型素子に過電流印加を阻止して阻止破損を防止する。また抵抗値検査装置に磁気抵抗効果型ヘッドの電極に接触する探針に接続する一対の端子間に所定電流以上の電流が印加された場合に該電極間を短絡する保護回路を設けて同様に検査工程における磁気抵抗効果型素子破損を防止する。
Claim (excerpt)：
磁気抵抗効果型素子及び該磁気抵抗効果素子に所定値電流を印加して抵抗変化を電圧変化で読み取るための一対の電極とを備える磁気抵抗効果型ヘッドにおいて、前記一対の電極に所定値以上の電流が印加された場合に前記一対の電極間を短絡する保護回路を設けたことを特徴とする磁気抵抗効果型ヘッド。
IPC (2)：
Return to Previous Page
