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J-GLOBAL ID：200903007641780790

雑音指数の測定方法及び装置

Inventor： 重松 昌行 ,  柏田 智徳 ,  西村 正幸
Applicant, Patent owner： 住友電気工業株式会社
Agent (1)： 長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991309165
Publication number (International publication number)：1993142596
Application date： Nov. 25, 1991
Publication date： Jun. 11, 1993
Summary：

【要約】【目的】 正確で再現性の高い雑音指数の測定装置。【構成】 信号光源2は、光ファイバ増幅器4の利得を測定するための信号光を発生する。偏光子8は、信号光源4からの信号光の入力に応じて光ファイバ増幅器が出力する出力光のうち、増幅された信号光の偏光方向に直交する偏光方向の成分の偏光光を透過する。解析装置10、14は偏光子8が透過する偏光光を測定することによってASEのパワーを決定する。この場合、光ファイバ増幅器4内で信号光の偏光状態はほとんど崩れていないと考えられるので、出力光のうちの無偏光の成分、すなわちASEのみを選択的に透過して測定することができると考えられる。この測定結果を利用すれば、信号光の裾部分を除去した状態でASEのパワーを決定することができ、正確なNF値を与えることができる。

Claim (excerpt)：

光ファイバ増幅器の利得を測定するための信号光を該光ファイバ増幅器に入力するステップと、前記信号光源からの信号光の入力に応じて前記光ファイバ増幅器が出力する出力光のうち、増幅された信号光の偏光方向に直交する偏光方向の成分を測定することによってASEのパワーを決定するステップと、を備えることを特徴とする光ファイバ増幅器の雑音指数の測定方法。

IPC (3)：

G02F 1/35 501 ,  G01M 11/00 ,  H01S 3/00