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J-GLOBAL ID:200903007717114035
微弱光測定装置
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995086866
Publication number (International publication number):1996285777
Application date: Apr. 12, 1995
Publication date: Nov. 01, 1996
Summary:
【要約】【目的】 本発明は、生体試料が発した微弱光の光量を高感度かつ高精度に測定する微弱光測定装置を提供することを目的とする。【構成】 生体試料を入れた試料容器は試料室内に置かれ、その試料容器の上方から試料容器の上面が加熱され、試料容器の下面に対して上面の温度を高く設定・保持される。これにより試料容器の上面内壁の結露発生を防止する。生体試料が発した微弱光は、結露により吸収・散乱されることなく試料容器の透明な蓋を透過して、その上方にある光量センサに到達し、感度よく光量が測定される。
Claim (excerpt):
透明な蓋を有する試料容器に入れた試料が発する光を測定する微弱光測定装置であって、前記試料容器の下面に対して前記試料容器の上面の温度を高く設定する温度設定器と、前記試料容器の上方に配され、受光面で前記試料容器内の試料から発する光の光量を測定する光量センサと、前記試料容器と前記光量センサの受光面とをその内部に含む密封可能な試料室とを備えることを特徴とする微弱光測定装置。
IPC (5):
G01N 21/76
, C12M 1/34
, G01J 1/02
, G01N 21/01
, G01N 21/15
FI (5):
G01N 21/76
, C12M 1/34 A
, G01J 1/02 D
, G01N 21/01 C
, G01N 21/15
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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特開平3-154853
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特開平2-024536
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化学発光検出器
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-303108
Applicant:東亜電波工業株式会社
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特開平3-154853
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特開平2-024536
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