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J-GLOBAL ID：200903007859865577

ブロック歪み検出装置

Inventor： 木戸 兼一
Applicant, Patent owner： 三洋電機株式会社
Agent (1)： 安富 耕二
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994207751
Publication number (International publication number)：1996079752
Application date： Aug. 31, 1994
Publication date： Mar. 22, 1996
Summary：

【要約】【目的】 ブロック歪みを効果的に検出できるようにすること。【構成】 逆DCT回路から得られるn×n個の画素からなるブロックのブロック境界に対して垂直な方向に揃列するとともに前記ブロック境界に対して対称な関係にある4個の画素間の差分を求める第1、第2、第3差分検出回路3,4,5と、前記第1、第2、第3差分検出回路により前記ブロックの縦及び横方向の全てについての差分を求めて各差分の分布を求める第1、第2、第3分布検出回路6,7,8と、前記第1、第2、第3分布検出回路か得られる分布値を比較する比較回路9を備え、この比較回路9の出力によりポストフィルタのオン・オフを行う。

Claim (excerpt)：

逆DCT回路から得られるn×n個の画素からなるブロックに生じる歪みを検出するための装置であって、前記ブロックのブロック境界に対して垂直な方向に揃列するとともに前記ブロック境界に対して対称な関係にある複数の画素間の差分を求める複数の差分検出回路と、前記複数の差分検出回路により前記ブロックの縦および横方向の全てについての差分を求めて各差分の分布を求める複数の分布検出回路と、前記複数の分布検出回路から得られる分布値を比較する比較回路からなるブロック歪み検出装置。

IPC (2)：

H04N 7/30 ,  H04N 1/41

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

• 特開平3-046482
  
• 特開平4-180381
  
• 特開平2-070126
  
• 特開平2-057067
  

Cited by examiner (4)

• 特開平3-046482
  
• 特開平4-180381
  
• 特開平2-070126
  
• 特開平2-057067