Pat
J-GLOBAL ID:200903007873239972
ドプラ診断用超音波探触子
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
吉田 研二 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992322012
Publication number (International publication number):1994169917
Application date: Dec. 01, 1992
Publication date: Jun. 21, 1994
Summary:
【要約】【目的】 超音波を発生させる素子を斜めに配置することなくドプラ計測を行う。【構成】 超音波探触子に弾性表面波を生じさせるSAW素子を用いる。その際に、一方向性のSAW素子30を用いて、それを音響伝搬媒体に接触させる。圧電材料32の表面で生じた弾性表面波は、圧電材料32のSAWの音速と音響伝搬媒体中の音速との比で定まる角度で斜めに弾性波として放射される。これによって素子を傾けることなくドプラ計測が可能となる。
Claim (excerpt):
圧電材料の表面に電極部が形成されその圧電材料表面にて弾性表面波が発生される弾性表面波素子を備えたドプラ診断用超音波探触子であって、前記弾性表面波素子として一方向に弾性表面波が生じる一方向性弾性表面波素子を用い、前記一方向性弾性表面波素子を音響伝搬媒体に接触させて、前記圧電材料の表面から斜め方向に弾性波を放射させることを特徴とするドプラ診断用超音波探触子。
IPC (2):
A61B 8/00
, H04R 17/00 330
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
-
特開昭58-054937
-
特開昭54-074695
Return to Previous Page