磁気共鳴撮影装置と磁気共鳴撮影方法

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：佐藤隆久
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003424441
Publication number (International publication number)：2005177240
Application date： Dec. 22, 2003
Publication date： Jul. 07, 2005
Summary：

【課題】受信コイルの感度分布を正確に算出し、被検体の断層画像を正確に撮影する。【解決手段】参照スキャンとしての複数の異なるエコー時間TE1,TE2での撮影シーケンスにおいて、表面コイル214bにより受信される磁気共鳴信号に基づいて複数の参照画像を第1参照画像生成部231によって生成し、その複数の参照画像に基づいてT2緩和時間をT2緩和時間算出部232によって算出する。そして、その算出されたT2緩和時間に基づいて、エコー時間TE2におけるT2強調画像をT2強調画像算出部234によって算出した後、エコー時間TE2における参照画像とT2強調画像とに基づいて感度分布を感度分布算出部235によって算出する。そして、その感度分布に基づいて、本スキャンによる断層画像を補正部236により補正する。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

本スキャンにて受信コイルにより受信される磁気共鳴信号に基づいて生成される被検体の撮影領域の断層画像を、参照スキャンにて生成される前記撮影領域での前記受信コイルの感度分布に基づいて補正する磁気共鳴撮影装置であって、前記参照スキャンとして、複数の異なるエコー時間での所定の撮影シーケンスにおいて前記受信コイルにより受信される前記撮影領域からの前記磁気共鳴信号に基づいて、前記複数の異なるエコー時間での参照画像をそれぞれに生成する第1参照画像生成手段と、前記第1参照画像生成手段により生成された複数の参照画像に基づいてT2緩和時間を算出するT2緩和時間算出手段と、前記T2緩和時間算出手段により算出されたT2緩和時間に基づいて、前記複数の異なるエコー時間のいずれかにおけるT2強調画像を算出するT2強調画像算出手段と、前記T2強調画像算出手段が前記T2強調画像を算出する際に用いたエコー時間における前記第1参照画像生成手段により生成された参照画像と、T2強調画像算出手段により算出された前記T2強調画像とに基づいて、前記感度分布を算出する感度分布算出手段とを有する磁気共鳴撮影装置。

IPC (2)：

A61B5/055 , G01R33/54

FI (3)：

A61B5/05 374 , A61B5/05 376 , G01N24/02 530Y

F-Term (19)：

4C096AA17 , 4C096AA20 , 4C096AB09 , 4C096AD06 , 4C096AD12 , 4C096AD25 , 4C096BA07 , 4C096BA19 , 4C096BA41 , 4C096BA42 , 4C096CC08 , 4C096CC40 , 4C096DA03 , 4C096DA04 , 4C096DA30 , 4C096DB06 , 4C096DC02 , 4C096DC08 , 4C096DC33

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

米国特許4812753号明細書

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