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J-GLOBAL ID：200903007887170975

収差補正機能付き画像形成装置

Inventor： 中西 美智子 ,  丸山 英祐
Applicant, Patent owner： 株式会社トプコン
Agent (7)： 宮川 貞二 ,  東野 博文 ,  宮川 清 ,  松村 博之 ,  内藤 忠雄 ,  柴田 茂夫 ,  金井 俊幸
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004034316
Publication number (International publication number)：2005224327
Application date： Feb. 10, 2004
Publication date： Aug. 25, 2005
Summary：

【課題】 補正できる収差に制限のある波面収差補正素子を用いていても、眼底からの収差を含んだ反射光を充分に補正できる収差補正機能付き画像形成装置を提供すること。【解決手段】 本発明の収差補正機能付き画像形成装置は、対象物60からの光束を受光して波面収差を測定する波面収差測定部(5、81)と、対象物60からの光束を少なくとも2つの波面収差補正光学素子(71、72)を介して受光して観察する観察光学系3と、前記波面収差測定部で測定した波面収差に基づき前記2つの波面収差補正光学素子の収差補正量を制御する制御部(83、84、85、9)とを備えている。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

対象物からの光束を受光して波面収差を測定する波面収差測定部と; 前記対象物からの光束に対して、少なくとも2つの波面収差補正光学素子を介して受光し、前記対象物の画像を形成する画像形成光学系と; 前記波面収差測定部で測定した波面収差に基づき前記波面収差補正光学素子の収差補正量を制御する制御部とを備える; 収差補正機能付き画像形成装置。

IPC (2)：

A61B3/12 ,  A61B3/10

FI (2)：

A61B3/12 E ,  A61B3/10 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• 光学特性測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-327098   Applicant：株式会社トプコン
• 米国特許公報第6042223号公報 第3欄第51行〜第65行、図8
  
• 光学特性測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-119086   Applicant：株式会社トプコン