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J-GLOBAL ID：200903007937989245

MALDI-TOF質量分析装置

Inventor： 竹田 武弘
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 小林 良平
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996158866
Publication number (International publication number)：1997320515
Application date： May. 29, 1996
Publication date： Dec. 12, 1997
Summary：

【要約】【課題】 生成するイオンの空間的及びエネルギ的ばらつきを減少させ、高い分解能で分析を行なうことができるようにする。【解決手段】 レーザ光の照射タイミング並びにサンプルスライドSS、第1、第2、第3イオンレンズL1、L2、L3及びデフレクタDFに印加する電圧VSS、VL1、VL2、VL3、VDFの大きさ及びタイミングを制御することにより、第1段階において、レーザ光照射により生成したイオンをサンプルスライドSSと第2イオンレンズL2との間に保持し、第2段階において、保持したイオンを第3イオンレンズL3により引き出して質量分析部に送り込むようにする。また、サンプルスライドSSと第2イオンレンズL2との間に衝突ガスを導入して、保持したイオンのエネルギを奪い、均一化する。更に、デフレクタDFにより、第3イオンレンズL3により引き出されたイオンを所定時間だけ質量分析部の方に通過させるようにする。

Claim (excerpt)：

サンプルスライド上に付着させたマトリクスにパルス状のレーザ光を照射することによりマトリクス中に混入された試料をイオン化し、該イオンを所定電圧で加速した後、質量分析部において所定距離を飛行するに要する時間により該イオンの質量分析を行なうマトリクス支援レーザ脱離イオン化飛行時間型(MALDI-TOF)質量分析装置において、a)サンプルスライドと質量分析部との間に順に設けられた第1、第2及び第3イオンレンズと、b)レーザ光の照射タイミング並びにサンプルスライド、第1、第2及び第3イオンレンズに印加する電圧の大きさ及びタイミングを制御することにより、第1段階において、レーザ光照射により生成したイオンをサンプルスライドと第2イオンレンズとの間に保持し、第2段階において、保持したイオンを第3イオンレンズにより引き出して質量分析部に送り込む制御部と、を備えることを特徴とするMALDI-TOF質量分析装置。