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J-GLOBAL ID：200903007964033587
超音波映像検査装置および超音波映像検査方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
梶山 佶是 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993106234
Publication number (International publication number)：1994294779
Application date： Apr. 08, 1993
Publication date： Oct. 21, 1994
Summary：
【要約】【目的】 IC等の部品の内部での剥離状態やボイトについて明確な映像を誰でも簡単に表示することができる超音波映像検査装置およびその検査方法を提供することにある。【構成】 測定データあるいは表示データに対して平滑化処理を行った後のデータに基づき輪郭データを生成して剥離状態の領域やボイド部分を輪郭表示する。
Claim (excerpt)：
焦点型プローブと、このプローブを駆動しこのプローブからエコー受信信号を受けてこれを増幅あるいは減衰させて測定信号を得る超音波探傷部とを有し、前記プローブの焦点位置を被検査物品の内部の所定の位置に設定して前記測定信号に応じて前記被検査物品の断面映像を表示する超音波映像検査装置において、前記測定信号に応じて得られる前記被検査物品の測定データあるいは表示データに対して平滑化処理を行う平滑化処理手段と、平滑化された前記測定データあるいは表示データに対して2次微分処理を行い輪郭データを生成する輪郭データ生成手段と、前記輪郭データに応じて輪郭映像を表示する輪郭表示手段とを備え、前記超音波探傷部の前記増幅率あるいは減衰率が外部から調整できることを特徴とする超音波映像検査装置。
IPC (2)：
G01N 29/22 501
, G01N 29/10 506
