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J-GLOBAL ID：200903007985750815

散乱体の吸収情報計測方法及び装置

Inventor：
土屋 裕

About 土屋 裕


Applicant, Patent owner：
浜松ホトニクス株式会社

About 浜松ホトニクス株式会社


Agent (1)： 長谷川 芳樹 (外4名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996230683
Publication number (International publication number)：1998073481
Application date： Aug. 30, 1996
Publication date： Mar. 17, 1998
Summary：
【要約】【課題】 種々の形状の散乱体内部の特定吸収成分の濃度変化や絶対値などの計測を実現し、その計測精度を大幅に改善するとともに、それらの時間変化や空間分布を効率良く計測することができる散乱体内部の吸収情報の計測方法および計測装置を提供すること。【解決手段】 散乱体に所定の変調周波数成分をもつ変調光を入射し、散乱体内部を伝播した変調光を受光して測定信号を取得し、その測定信号から前記変調周波数成分の信号を検出し、前記変調周波数成分の信号の振幅、および位相の変調角周波数に対する傾きを求め、前記振幅と前記位相の変調角周波数に対する傾きと吸収係数の差との間の所定の関係に基づいて第1次情報である吸収係数の差を演算する、ことを特徴とする方法。
Claim (excerpt)：
測定対象物である散乱体の表面に所定の変調周波数成分をもつ変調光をスポット状に入射し、測定対象物の内部を伝播した前記変調光を、前記散乱体の表面において複数のタイミングでおよび/または複数の位置で受光して測定信号をそれぞれ取得し、前記測定信号から前記変調周波数成分の信号をそれぞれ検出し、前記の複数のタイミングおよび/または複数の位置における測定でそれぞれ得られた前記変調周波数成分の信号の正弦成分、および余弦成分の変調角周波数に対する傾きを求め、前記正弦成分と、前記余弦成分の変調角周波数に対する傾きと、前記の複数のタイミングおよび/または複数の位置における吸収係数の差との間の所定の関係に基づいて、第1次情報である前記吸収係数の差を演算する、ことを特徴とする散乱体の吸収情報計測方法。
IPC (3)：
G01J 1/00 ,  G01J 1/04 ,  G01N 21/31
FI (3)：
G01J 1/00 H ,  G01J 1/04 M ,  G01N 21/31 Z
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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