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J-GLOBAL ID：200903008000902590
疲労試験用試験片
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
志賀 正武 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992274665
Publication number (International publication number)：1994123684
Application date： Oct. 13, 1992
Publication date： May. 06, 1994
Summary：
【要約】【目的】 疲労試験用試験片に係り、長時間を要する低応力繰返し疲労試験等を効率よく実施することを可能とする疲労試験用試験片を提供する。【構成】 疲労試験機に取り付けられ試験荷重を印加される荷重印加部とその間に配される計測部とを一体的に形成してなる主試験片と、その計測部表面に荷重の作用方向に沿って取り付けられる副試験片とを具備し、副試験片が、主試験片の計測部表面に取り付けられる取付部と主試験片の計測部に対して十分に小さい断面積を有する計測部とを一体的に形成してなり、応力条件の異なる複数の副試験片に対して主試験片と同一の変動パターンを有する試験荷重を作用させる。
Claim (excerpt)：
疲労試験機に取り付けられ試験荷重を印加される荷重印加部と、該荷重印加部の間に配され荷重印加部に対して十分に小さい断面積を有する主計測部とを一体的に形成してなる主試験片と、該主試験片の主計測部表面に荷重の作用方向に沿って取り付けられる少なくとも1個の副試験片とを具備し、該副試験片が、前記主試験片の計測部表面に取り付けられる取付部と、該取付部および前記主計測部に対して十分に小さい断面積を有しかつ主試験片の表面から離間状態に配される副計測部とを一体的に形成してなることを特徴とする疲労試験用試験片。
IPC (3)：
G01N 1/28
, G01L 1/22
, G01N 3/32
