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J-GLOBAL ID：200903008017075248

リード形状計測装置

Inventor： 山 中 和 行
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 佐藤 一雄 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991186533
Publication number (International publication number)：1993026640
Application date： Jul. 25, 1991
Publication date： Feb. 02, 1993
Summary：

【要約】【構成】 外部リード1aを2台のテレビカメラ10,11により異なる斜め方向から撮像する。そして、カメラ11の画像平面13でリード1aの稜線と交差する仮想線の2つの交点間の中点を計測サンプリング点として決定する。次に、カメラ10の画像平面12内においてカメラ11の計測サンプリング点を映す視線のエピポーラ・ラインを設定し、このエピポーラ・ライン上に存在し且つ画像平面12にてリード1aの稜線と交差する仮想線の2つの交点間の中点となる点を点と同一の点として特定する。この計測サンプリング点を複数設定し各々の3次元座標群に基づき外部リード1aの形状計測を行う。【効果】 斜視撮像により計測可能であるため全外部リード1aについて自動計測することができる。

Claim (excerpt)：

被計測外部リードを斜め方向から撮像する第1斜視撮像装置と、前記被計測外部リードを前記第1斜視撮像装置との同一撮像視野を含むように該第1斜視撮像装置とは異なる斜め方向から撮像する第2斜視撮像装置と、前記第1斜視撮像装置の撮像による画像平面内において前記被計測外部リードの2本の稜線と交差する仮想直線の該2つの交点間線分の中点を計測サンプリング点として決定する第1計測点特定手段と、前記第2斜視撮像装置の撮像による画像平面内において、前記第1斜視撮像装置の前記計測サンプリング点を映すときの視線に基づくエピポーラ・ラインを設定し、該エピポーラ・ラインに存在し且つ該画像平面内において前記被計測外部リードの2本の稜線と交差する仮想直線の該2つの交点間線分の中点となる点を前記第1画像平面内の前記計測サンプリング点と同一の点として特定する第2計測点特定手段と、を備え、前記計測サンプリング点を複数設定しその各3次元座標を求め、その3次元座標群に基づいて前記被計測外部リードの3次元形状を計測するリード形状計測装置。

IPC (2)：

G01B 11/24 ,  G01B 11/00

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭64-078104
  
• 特開平3-131706
  
• 特開昭63-217214