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J-GLOBAL ID：200903008181143084

三次元形状解析システム

Inventor： 三村 建治
Applicant, Patent owner： 三村 建治
Agent (1)： 吉田 精孝
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993038027
Publication number (International publication number)：1994249625
Application date： Feb. 26, 1993
Publication date： Sep. 09, 1994
Summary：

【要約】【目的】 三次元形状の数値化を容易且つ正確に行うことのできる三次元形状解析システムを提供する。【構成】 測定装置ではレーザー光線を照射することにより測定対象物Aの表面における多数の点の三次元位置が測定されるとともに、データ処理装置では測定装置によって測定された各点データを継ぐことにより測定対象物Aの三次元形状が数値データに変換され、データ出力装置では三次元形状の数値データがプリンタ,レーザー成型機等によって出力される。この場合、測定対象物Aの三次元形状は膨大な点データの集まりとして得られるので、各点データを結ぶ面を数式で表される論理的な面で継ぎ合わせる必要がない。

Claim (excerpt)：

レーザー光線を照射することにより測定対象物の表面における多数の点の三次元位置を測定する測定装置と、測定された各点データを継ぐことにより測定対象物の三次元形状を数値データに変換するデータ処理装置と、三次元形状の数値データを所定の表現方法によって出力するデータ出力装置とを備えたことを特徴とする三次元形状解析システム。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平4-169804
  
• 特開平1-160501
  
• 特公平2-058417