Pat
J-GLOBAL ID：200903008218662028
電離圏の全電子含有量の測定システムおよびプロセス
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
志賀 正武 (外1名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1997506348
Publication number (International publication number)：1999509322
Application date： Jul. 16, 1996
Publication date： Aug. 17, 1999
Summary：
【要約】この発明は、電離圏の全電子含有量の測定システムを提案している。このシステムは、衛星に搭載されVHFで送信される信号の拡散スペクトル送信機(11)と、地上に配置され前記VHF信号を受信して処理し電離圏の全電子含有量(TEC)を測定することを可能とする装置とを具備している。この発明は、前記全電子含有量の測定プロセスにも関連している。
Claim (excerpt)：
電離圏の全電子含有量を測定するためのシステムであって、 - 衛星(9)に搭載され、VHFで送信される可干渉性の拡散スペクトル信号の送信機(11)と、 - 地上に配され、前記VHF信号を受信して処理し、電離圏の全電子含有量(TEC)を単一の周波数を用いて測定することを可能とする装置(18)とを具備することを特徴とするシステム。
IPC (2)：
FI (2)：
G01R 29/24 Z
, G01V 3/00 Z
